陶瓷电容内外部失效因素

您当前的位置 : 首 页 > 新闻资讯 > 行业新闻

陶瓷电容内外部失效因素

2021-10-28 11:10:26

电容器是电子电路的主要元件,在电路中有着许许多多的应用,比如在直流电源电路中做低频滤波,在抗干忧电路中做高次谐波滤波,在振荡电路中做谐振元件等等,但是电容器同时也是电路中发生故障z多的电器元器件之一。本文主要讲述关于陶瓷电容内外部失效因素,从各方面了解陶瓷电容。


陶瓷电容器失效的原因分为内在因素和外部因素

陶瓷电容器

内在因素为:

(1)陶瓷介质内空洞:导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等。


(2)主要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相仿。


(3)分层:多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧。烧结温度可以高达1000℃以上。层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生。


外部因素主要为:

(1)温度冲击裂纹,主要由于器件在焊接特别是波峰焊时承受温度冲击所致,不当返修也是导致温度冲击裂纹的重要原因。


遇到失效问题的时候,可以从这几个方面寻找根源问题,确保陶瓷电容的安全使用。

上一篇:村田磁珠的在电路中的作用2021-10-28 11:08:02
下一篇:陶瓷电容器的种类和应用特点2021-10-28 11:12:25

最近浏览:

电话:0755-2383-2403

邮箱:sales@sanmega.com

传真:86-755-82971897-6095

网站:www.sanmega.com

地址:深圳市光明新区公明办事处上村社区元山工业区B区31栋首层

logo11.png

企业分站 | 网站地图 | RSS | XML | 网站反馈          版权所有 © 深圳尚美佳电子有限公司 All rights reserved